HALT (Highly Accelerated Life Test, 설계 마진검증)

제품의 취약한 부분을 최대한 빨리 발견하고 가속할 수 있도록 저온/고온 조건과 랜덤진동을 사용하여 Weak point 불량을 가속한다.
- 저온스텝스트레스
- 고온스텝스트레스
- 급속온도변화시험
- 진동스텝스트레스
- 복합스트레스

HASS (Highly Accelerated Stress Screen)

현장에서 제품고장을 일으킬 수 있는 제조공정상의 결함을 찾는 시험. HALT시험 결과를 토대로 사이클 시험을 한다.

HAST (Highly Accelerated Stress Test, SMD부품의 고가속열화시험)

내전압시험(Voltage Resistance Test)

전기적 내구성을 알아보는 시험.

절연저항시험(Insulation Resistance test)

도체사이에 얼만큼 누전이 되고 있는지 알아보는 시험.

낙하시험(Drop Test)

운송과정 중에 발생할 수 있는 낙하나 충격의 재현을 통해 제품 및 포장의 설계를 개선함으로써 제품의 내구성 및 신뢰성을 향상

일사복합시험(Solar Radiation Test)

태양 복사 조건하의 기기 및 부품에서 발생된 효과를 검사하기 위한 모의시험.